- Anasayfa
- Nikon
- XT V 160 X-ray test
XT V 160 X-ray test
Tanım
Pcb dahil tüm elektronik komponentleri bütün detayıyla gösterir. Entegreleri tellendirme detayına kadar Nikon nano X ışın kaynağıyla kontrol edebilir. Özel yazılımıyla hızlı kontrol ve ölçüm sunar. ...devamını oku
- X Işını Gücü
- 160kV
- Kaynak tipi
- Açık
- Hedef gücü
- 20W mikrofokus
- Odak nokta boyutu
- 1 μm
- Detay çözünürlük
- 500 nm (nano)
- Geometrik büyütme
- 2046x
- Görüntü sistemi
- 16bit 2.85Mpiksel
- İnceleme Alanı
- 406*406 mm
- Mak.numune ebat
- 711*762 mm
- Monitör
- 4K IPS 3840*2160piksel
- Makine ebat G*D*Y
- 1200*1786*1916 mm
- Makine ağırlık
- 2100 kg
Tanım
Standart olarak
Opsiyonlar
Katalog
Video
Iletişime Geç